国立大学法人京都大学
高感度で小型化・軽量化を実現した全反射蛍光X線分析装置
国立大学法人京都大学
高感度で小型化・軽量化を実現した全反射蛍光X線分析装置
本発明は、試料にX線を照射して発生する蛍光X線を検出し、その試料中の微量元素を測定する全反射蛍光X線分析装置およびその方法に関するものです。装置は、試料台上の残浴にX線を照射して、X線検出部の計数率が最大積分計数率よりも小さくなるように設計されています。また、X線管の管電圧は20kV以上30kV以下で、試料台は短形板状となっています。本発明の目的は、小型化と軽量化を追求し、高感度な全反射蛍光X線分析装置とその方法を提供することです。
つまりは、微量な元素分析を効率よく行う全反射蛍光X線分析装置とその方法
AIによる特許活用案
おすすめ業界 化学マテリアル科学環境科学
- 高感度な微量元素分析の実現
- 小型化・軽量化による移動性の向上
- 経済性の向上
本発明は、微量な元素を高感度で分析することができます。これにより、研究所や学校、企業等での微量元素分析がより効率的かつ正確に行えます。
本発明の全反射蛍光X線分析装置は小型化・軽量化が図られており、移動性が向上しています。これにより、現地での微量元素分析が可能となり、より広範囲での調査が可能となります。
本発明の全反射蛍光X線分析装置は、高出力X線源を必要としないため、装置の大型化や重量化を防ぎ、運用コストを抑制します。これにより、微量元素分析を必要とする全ての業界での経済性が向上します。
活用条件
- サブスク
- 譲渡
- ライセンス
商品化・サービス化 実証実験 サンプル・プロトタイプ
特許評価書
- 権利概要
| 出願番号 | 特願2010-527698 |
| 発明の名称 | 全反射蛍光Ｘ線分析装置及び全反射蛍光Ｘ線分析方法 |
| 出願人/権利者 | 国立大学法人京都大学 |
| 公開番号 | WO2010/026750 |
| 登録番号 | 特許第0005846469号 |
- サブスク
- 譲渡
- ライセンス
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