国立研究開発法人科学技術振興機構
高精度で環境依存な核磁気共鳴イメージング技術
国立研究開発法人科学技術振興機構
高精度で環境依存な核磁気共鳴イメージング技術
本特許は、核磁気共鳴信号の横緩和時間とアパルスの時間間隔、試料が受ける雑音の周波数を活用した核磁気共鳴イメージング技術に関するものです。この技術は、試料の外部環境に応じて時間間隔のアパルスを印加し、その結果から横緩和時間を求め、イメージングを行います。また、試料が半導体である場合や生体である場合にも適用可能で、それぞれの特定の反応速度や特定部分の反応に対応する周波数領域に応じた間隔でアパルスを印加します。さらに、画像処理部は横緩和時間のイメージングを行い、その大小を色の濃淡で表示します。これにより、核磁気共鳴イメージングの精度を向上させ、より詳細な情報を提供できます。
つまりは、時間間隔と雑音周波数を利用した核磁気共鳴イメージング技術
AIによる特許活用案
おすすめ業界 医療業界半導体業界研究開発
- 高精度医療診断ツールとしての活用
- 半導体製造プロセスの品質管理
- 研究開発分野での活用
この技術は、生体の特定部分の反応速度に対応する周波数領域に応じた間隔でアパルスを印加することで、高精度な核磁気共鳴イメージングを可能にします。これにより、病変部位の特定や治療効果のモニタリングなど、医療診断ツールとしての活用が期待されます。
半導体のキャリアと核スピンの相互作用が雑音となる周波数領域に対応した間隔でアパルスを印加することで、半導体の製造プロセスにおける品質管理をより精度高く行うことが可能となります。これにより、製品の信頼性向上や製造コストの削減に寄与します。
本特許の技術は、物質の微細な構造や性質を詳細に観察することが可能となります。これにより、新材料の開発や既存材料の性能評価など、研究開発分野での活用が期待されます。特に、物理化学や生物学などの分野での研究において有用です。
活用条件
- サブスク
- 譲渡
- ライセンス
商品化・サービス化 実証実験 サンプル・プロトタイプ
特許評価書
- 権利概要
| 出願番号 | 特願2013-550279 |
| 発明の名称 | 核磁気共鳴イメージ装置および核磁気共鳴イメージ方法 |
| 出願人/権利者 | 国立研究開発法人科学技術振興機構 |
| 公開番号 | WO2013/094582 |
| 登録番号 | 特許第0006023084号 |
- サブスク
- 譲渡
- ライセンス
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