国立大学法人京都大学
革新的な固体の空準位測定装置と方法
国立大学法人京都大学
革新的な固体の空準位測定装置と方法
本特許は、半導体や金属などの固体の電子状態を精密に測定するための装置と方法について述べています。この装置には、電子線を生成して固体試料に照射し、試料から放出される電磁波の強度を測定する手段や、その強度から固体試料の空準位エネルギーを決定する手段が含まれています。特に、180-700nmの範囲の光の強度を測定し、その結果からスペクトルを生成することが特徴です。これにより、固体の電子状態を精密に測定し、物質の性質を把握することが可能となります。
つまりは、半導体や金属などの固体の電子状態を精密に測定するための装置と方法の特許
AIによる特許活用案
おすすめ業界 半導体産業材料科学研究開発
- 半導体材料の性能評価
- 新素材の開発
- 教育・研究用途
この特許の技術は、半導体材料の性能評価に活用することができます。半導体デバイスの性能は、その元となる材料の電子状態に大きく影響を受けます。この装置と方法を使用することで、材料の電子状態を精密に測定し、デバイスの性能を予測することが可能となります。
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活用条件
- サブスク
- 譲渡
- ライセンス
商品化・サービス化 実証実験 サンプル・プロトタイプ
特許評価書
- 権利概要
| 出願番号 | 特願2014-502245 |
| 発明の名称 | 固体の空準位測定方法及び装置 |
| 出願人/権利者 | 国立大学法人京都大学 |
| 公開番号 | WO2013/129390 |
| 登録番号 | 特許第0006108361号 |
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