地方独立行政法人東京都立産業技術研究センター
あなたの研究を一歩先へ！高精度なX線三次元測定装置
地方独立行政法人東京都立産業技術研究センター
あなたの研究を一歩先へ！高精度なX線三次元測定装置
本特許では、撮像対象試料にX線を照射し、その試料から発生する特性X線をエネルギー分散型検出器により検出します。検出された特性X線のピークを数値化し、その数値データに基づいて画像を再構成します。さらに、再構成された画像は、正解サイノグラムに収束させるようにX線CT画像をエネルギー別に補正します。この技術により、試料の元素ごとの画像を再構成し、各画像を一つに組み合わせ、撮像対象試料の元素由来情報を含む3次元画像を取得することが可能です。
つまりは、本特許は、X線エネルギー別画像再構成装置及び方法、及びX線三次元測定装置及び方法に関するものです。
AIによる特許活用案
おすすめ業界 医療研究開発工業
- 高精度な医療診断装置の開発
- 研究開発の効率化
- 工業製品の品質管理
本特許の技術を利用して、より高精度な医療診断装置を開発することが可能です。特性X線を用いて体内の詳細な構造を再構成し、3次元画像として取得することで、より詳細な診断が可能になります。
物質の内部構造や特性を詳細に分析するための研究開発において、本特許の技術を用いることでデータ取得の効率化を図ることが可能です。より正確な3次元画像を取得することで、解析の精度を向上させることができます。
工業製品の製造プロセスにおいて、本特許の技術を用いて製品の内部構造を詳細に観察し、品質管理を行うことができます。製品内部の欠陥や異物の有無を確認することにより、製品の品質向上に寄与します。
活用条件
- サブスク
- 譲渡
- ライセンス
商品化・サービス化 実証実験 サンプル・プロトタイプ
特許評価書
- 権利概要
| 出願番号 | 特願2015-519944 |
| 発明の名称 | Ｘ線エネルギー別画像再構成装置及び方法並びにＸ線三次元測定装置及び方法 |
| 出願人/権利者 | 地方独立行政法人東京都立産業技術研究センター |
| 公開番号 | WO2014/192889 |
| 登録番号 | 特許第0006280544号 |
- サブスク
- 譲渡
- ライセンス
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