国立大学法人秋田大学
革新的な磁気力顕微鏡用探針の評価装置

国立大学法人秋田大学
革新的な磁気力顕微鏡用探針の評価装置
本特許は、磁気力顕微鏡用探針の特性を評価する新たな装置と方法に関するものです。探針チップは強磁性体、常磁性体、超常磁性を示す材料、または反磁性体を有し、特定の状況下での探針の挙動を評価します。交流磁場の強度を増加させることにより、サイドバンドの強度が変化し、その変化を測定することで探針の特性を評価します。評価結果は探針の挙動や材質に依存し、それぞれの磁性体に対して特異な評価結果を出力します。これにより、より精確な探針の評価が可能となります。
つまりは、磁気力顕微鏡用探針の特性を精確に評価するための装置と方法
AIによる特許活用案
おすすめ業界 マイクロスコピーサービスマテリアルサイエンスナノテクノロジー
- マイクロスコピーサービスの品質向上
- 探針製造業者の品質管理
- ナノテクノロジーの研究開発
この特許を活用することで、マイクロスコピーサービス業者は、探針の特性をより精確に評価できます。これにより、より正確な観察結果を提供し、サービスの品質を向上させることが可能になります。
本特許を活用することで、探針製造業者は、製造した探針の特性を精確に評価できます。これにより、品質管理をより厳格に行い、製品の信頼性を向上させることが可能になります。
本特許を活用することで、ナノテクノロジーの研究開発において、微細な物質の観察に用いる探針の特性を精確に評価できます。これにより、より正確なデータを得ることが可能になり、研究の精度を向上させることが可能になります。
活用条件
- サブスク
- 譲渡
- ライセンス
商品化・サービス化 実証実験 サンプル・プロトタイプ
特許評価書
- 権利概要
出願番号 | 特願2016-523490 |
発明の名称 | 磁気力顕微鏡用探針の評価装置および評価方法、ならびに磁気力顕微鏡および磁気力顕微鏡の制御用磁場調整方法 |
出願人/権利者 | 国立大学法人秋田大学 |
公開番号 | WO2015/182564 |
登録番号 | 特許第0006528334号 |
- サブスク
- 譲渡
- ライセンス
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