国立大学法人豊橋技術科学大学
高精度な化学・物理現象検出装置の制御方法
国立大学法人豊橋技術科学大学
高精度な化学・物理現象検出装置の制御方法
本特許では、高精度な化学・物理現象検出装置の制御方法が明記されています。センシング領域へ電荷を供給する電荷供給領域、その供給を調整する電荷供給調整領域、そしてセンシング領域との間に形成される電位井戸領域を具備した半導体基板を利用します。電荷供給領域から第1の電位井戸領域へ電荷を供給し、その電荷を排出するステップから始まり、センシングステップで電荷の境界電位をセンシング領域の電位と等しくします。その後、電荷の量を検出するステップを経て、化学・物理現象を高精度に検出します。
つまりは、光感応性を有する半導体基板を使った化学・物理現象の検出装置の制御方法
AIによる特許活用案
おすすめ業界 化学物理電子
- 電荷供給調整領域の活用
- 光感応性センシング領域の利用
- 電位井戸領域の活用
電荷供給調整領域を用いて、電荷の供給をより精密に制御することで、より高精度な化学・物理現象の検出が可能になります。
光感応性を有するセンシング領域を利用することで、光に反応した化学・物理現象を検出することが可能です。これにより、光感応性を有する物質の精密な検出が可能になります。
電位井戸領域を活用することで、電荷の供給と排出を制御し、センシング領域の電位と等しくすることが可能です。これにより、電位差による誤差を減らし、より高精度な検出を実現できます。
活用条件
- サブスク
- 譲渡
- ライセンス
商品化・サービス化 実証実験 サンプル・プロトタイプ
特許評価書
- 権利概要
| 出願番号 | 特願2017-506160 |
| 発明の名称 | 化学・物理現象検出装置 |
| 出願人/権利者 | 国立大学法人豊橋技術科学大学 |
| 公開番号 | WO2016/147798 |
| 登録番号 | 特許第0006905701号 |
- サブスク
- 譲渡
- ライセンス
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