国立大学法人電気通信大学
光コムによる精密かつ広範囲な形状測定装置
国立大学法人電気通信大学
光コムによる精密かつ広範囲な形状測定装置
この発明は、光コムを用いた形状測定方法及び装置に関するもので、光パルス列が時系列に番号順に複数配された状態で被測定物体に照射されます。光パルス列は、時系列で隣り合う光パルス同士の位相がずれており、番号順に時間間隔を空けて配され、互いにコヒーレント（一定の位相関係を保つ）です。この光パルス列が被測定物体の異なる位置に作用した結果を受光対象光パルス列として取り込み、その差分を利用して被測定物体の形状を測定します。これにより、ナノメートルオーダーの高精度な測定と、メートルオーダーの広範囲な測定が可能となります。
つまりは、ナノメートル単位の測定分解能とメートルオーダーの測定範囲を実現する形状測定装置を提供する。
AIによる特許活用案
おすすめ業界 工業医療基礎科学
- 工業製品の精密な形状測定
- 医療分野への応用
- 基礎科学研究への活用
当該技術は、製造プロセスにおける工業製品の形状測定に利用することができます。製品の微細な部分の形状やサイズを高精度に測定することが可能となり、品質管理を一層向上させることができます。
医療分野でも、この発明は大きな可能性を秘めています。例えば、生体組織の形状測定や病変部位の検出に利用することが可能です。これにより、より精密な診断や治療が可能となり、患者のQOLの向上に寄与します。
また、基礎科学研究の分野においても、この形状測定技術は有用であると考えられます。例えば、微細な生物組織や材料の形状や構造を詳細に解析するためのツールとして利用することができます。これにより、新しい科学的発見や理解を促進することが期待されます。
活用条件
- サブスク
- 譲渡
- ライセンス
商品化・サービス化 実証実験 サンプル・プロトタイプ
特許評価書
- 権利概要
| 出願番号 | 特願2018-502540 |
| 発明の名称 | 形状測定方法及び形状測定装置 |
| 出願人/権利者 | 国立大学法人電気通信大学 |
| 公開番号 | WO2017/149912 |
| 登録番号 | 特許第0006820020号 |
- サブスク
- 譲渡
- ライセンス
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