大学共同利用機関法人自然科学研究機構
高解像度な観察が可能な位相差走査透過電子顕微鏡装置
大学共同利用機関法人自然科学研究機構
高解像度な観察が可能な位相差走査透過電子顕微鏡装置
本特許は、フレネル・ゾーン・プレートを含む位相差走査透過電子顕微鏡装置について述べています。この装置は、電子線を少なくとも2つのビームに分波し、一方を主プローブ波として、他方を参照波として使用します。また、フレネル・ゾーン・プレートは配置されている場所により、参照波が収束あるいは発散する焦点位置を対物レンズの電子銃側の焦点と一致させます。さらに、フレネル・ゾーン・プレートと対物レンズの間に1つ以上のレンズを設け、該当レンズを移動または転送する位置に配置します。これにより、主プローブ波と参照波の間の位相差を測定することで、試料の微細な構造を高い解像度で観察することが可能となります。
つまりは、電子線を分波するフレネル・ゾーン・プレートを特徴とする顕微鏡装置
AIによる特許活用案
おすすめ業界 マイクロスコピーナノテクノロジー物質科学
- 高解像度の生物学的観察
- ナノスケールの材料分析
- 教育用具としての利用
本装置を用いることで、生物学的試料の微細な構造を高い解像度で観察することが可能となります。これにより、細胞や微生物の内部構造、タンパク質の構造などを詳細に調べることができます。
ナノスケールの材料やデバイスの構造解析に本装置を使用することで、細部まで詳細に観察し、材料の特性や品質を評価することが可能です。これにより、新しい材料やデバイスの開発に役立てることができます。
本装置は教育現場でも活用できます。物質の微細な構造を視覚的に理解することは、学生が物質科学や生物学を学ぶ上で非常に有用です。本装置を教育現場で使用することにより、学生の理解を深めることができます。
活用条件
- サブスク
- 譲渡
- ライセンス
商品化・サービス化 実証実験 サンプル・プロトタイプ
特許評価書
- 権利概要
| 出願番号 | 特願2018-508074 |
| 発明の名称 | 位相差走査透過電子顕微鏡装置 |
| 出願人/権利者 | 大学共同利用機関法人自然科学研究機構 |
| 公開番号 | WO2017/170554 |
| 登録番号 | 特許第0006842718号 |
- サブスク
- 譲渡
- ライセンス
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