国立研究開発法人産業技術総合研究所
デジタル回路による精密な位相計測を実現する装置
国立研究開発法人産業技術総合研究所
デジタル回路による精密な位相計測を実現する装置
本特許は、周期的に変動する入力信号の位相、または入力信号間の位相差をデジタル回路によって計測する装置に関するものです。この装置は、計数処理部と端数処理部の出力を補正部に入力し、その出力を基に位相の差分を演算します。この差分が予め定めたスレショルド値を上回ったとき、ゼロクロス検出回数に加算し、ゼロクロスが失われる直前、直後の端数処理パラメータの値に基づいて、失われた端数処理パラメータを推測します。さらに、スレショルド値を下回ったときは、誤検出されたゼロクロス検出回数を推測し、その数をゼロクロス検出回数から減算します。これにより、高精度な位相計測が可能となります。さらに、この技術は、位相差計測装置やAD変換器、レーザヘテロダイン干渉計などの装置への応用も示しています。
つまりは、この特許は、周期的に変動する入力信号の位相や位相差をデジタル回路によって計測する技術に関するものです。
AIによる特許活用案
おすすめ業界 電子工学計測技術レーザ技術
- 高精度な位相計測装置の開発
- レーザヘテロダイン干渉計の高精度化
- 位相雑音計測装置の開発
本特許の技術を用いて、高精度な位相計測装置を開発することが可能です。これにより、より正確な計測が可能となり、電子工学や計測技術の分野での応用が期待できます。
本特許の位相計測技術をレーザヘテロダイン干渉計に応用することで、より精密な変位計測が可能となります。これにより、工業製品の精密加工や、超高精度の測定が必要な研究開発等に有用です。
本特許の技術を応用し、入力信号の位相揺らぎの時刻履歴を計測する位相雑音計測装置を開発することができます。これにより、通信や放送、音響技術などの分野での信号品質改善に寄与する可能性があります。
活用条件
- サブスク
- 譲渡
- ライセンス
商品化・サービス化 実証実験 サンプル・プロトタイプ
特許評価書
- 権利概要
| 出願番号 | 特願2018-515715 |
| 発明の名称 | 位相計測装置およびこの位相計測装置を適用した機器 |
| 出願人/権利者 | 国立研究開発法人産業技術総合研究所 |
| 公開番号 | WO2017/191804 |
| 登録番号 | 特許第0006760612号 |
- サブスク
- 譲渡
- ライセンス
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