国立研究開発法人産業技術総合研究所
高精度な高周波特性検査装置
国立研究開発法人産業技術総合研究所
高精度な高周波特性検査装置
本特許技術は、対向する一対の高周波プローブを使用して、平面回路の高周波特性を測定する装置とその校正方法に関するものです。この装置は、平面回路のシグナル領域に対してプローブを接触させ、その接触位置（Z軸方向の深さ）を高周波の反射特性に基づいて決定します。さらに、X軸とY軸方向にプローブを移動させ、高周波の位相特性を測定し、その位相特性が極値となる位置を基準位置として決定します。これにより、高精度の高周波特性測定が可能となります。また、制御装置を用いてステージコントローラと計測装置を制御し、基準位置を校正する方法も提供します。この特許は、高周波特性の検査装置の校正方法を実行するプログラムやプログラムを記録した記憶媒体にも適用可能です。
つまりは、高周波特性を測定するための高精度な装置とその校正方法を提供する特許技術です。
AIによる特許活用案
おすすめ業界 電子部品製造業電気機器製造業計測器製造業
- 高精度な回路設計のための利用
- 電子部品の品質保証
- 高周波特性検査装置の製造
高周波を用いた電子回路の設計や評価において、本特許技術を利用することで、高精度な回路設計が可能となります。特に高周波特性が重要な役割を果たす電子部品の設計において有用です。
電子部品の製造過程や出荷前の検査において、本特許技術を活用することで、部品の高周波特性を高精度に測定し、品質保証に役立てることができます。
本特許技術を用いて、高周波特性を高精度に測定する装置の製造が可能です。この装置は、電子部品製造業や電気機器製造業など、高周波特性が重要となる様々な業種での需要が見込まれます。
活用条件
- サブスク
- 譲渡
- ライセンス
商品化・サービス化 実証実験 サンプル・プロトタイプ
特許評価書
- 権利概要
| 出願番号 | 特願2018-519139 |
| 発明の名称 | 高周波プローブ位置補正技術 |
| 出願人/権利者 | 国立研究開発法人産業技術総合研究所 |
| 公開番号 | WO2017/203876 |
| 登録番号 | 特許第0006562489号 |
- サブスク
- 譲渡
- ライセンス
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