学校法人慶應義塾
非接触での応力検査を可能にするテラヘルツ光を用いた光学測定装置
学校法人慶應義塾
非接触での応力検査を可能にするテラヘルツ光を用いた光学測定装置
本特許は、テラヘルツ光を用いた偏光測定と、これを利用した非接触の応力検査に関するものです。光学測定装置は、偏光制御手段を通過するテラヘルツ光が互いに異なる偏光となるように制御し、サンプルで反射されたテラヘルツ光から偏光成分を抽出します。この偏光成分から抽出された互いに直交する電場成分に基づいて、サンプルの固有軸の向きと屈折率異方性を決定します。さらに、固有軸の向きと屈折率異方性に基づいて、サンプルの内部の応力分布を求めることが可能です。これにより、非破壊・非接触での高分子材料の安全性評価が可能となります。
つまりは、高分子材料の内部応力を非接触で分析し、材料の安全性を向上させる光学測定装置
AIによる特許活用案
おすすめ業界 自動車産業材料科学安全検査業界
- 高分子材料の品質保証
- 非破壊検査サービスの提供
- 高分子材料の研究開発
本装置は、高分子材料の生産過程で内部の応力状態を非接触で測定し、品質保証に活用することが可能です。異常な応力分布を示す製品を早期に見つけ出し、問題のある製造工程を特定することで、製品の安全性と品質を向上させることができます。
本装置を使用して、高分子材料の内部応力を非破壊で測定するサービスを提供することができます。特に、自動車部品や建築材料など、安全性が求められる製品の検査において有用です。
本装置は、新たな高分子材料の研究開発に活用することが可能です。材料の内部応力状態を測定することで、材料の特性や性能を評価し、最適な材料設計を促進することができます。
活用条件
- サブスク
- 譲渡
- ライセンス
商品化・サービス化 実証実験 サンプル・プロトタイプ
特許評価書
- 権利概要
| 出願番号 | 特願2018-537278 |
| 発明の名称 | 光学測定装置、光学測定方法、及び応力検査方法 |
| 出願人/権利者 | 学校法人慶應義塾 |
| 公開番号 | WO2018/043438 |
| 登録番号 | 特許第0006843397号 |
- サブスク
- 譲渡
- ライセンス
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