国立研究開発法人産業技術総合研究所
高精度検査が可能な高周波特性検査装置の制御方法
国立研究開発法人産業技術総合研究所
高精度検査が可能な高周波特性検査装置の制御方法
この特許は、ベクトルネットワークアナライザを制御し、プローブの回転軸周りの異なる角度において高周波信号を導電体面に出力する制御方法を提供しています。その際、シグナル端子の先端とグランド端子の先端の接触状態を変化させながら信号を出力します。また、Sパラメータを基に、プローブの回転軸周りの基準角度を決定します。プローブの回転軸周りの角度の変化に対して、Sパラメータが複素平面上の所定の領域から当該所定の領域内に入った時や領域外に出た時の角度を求め、その平均値を基準角度とします。これにより、高精度な検染が可能となります。
つまりは、プローブの回転軸周りの基準角度を決定し、高周波信号を導電体面に出力する高周波特性検査装置の制御方法。
AIによる特許活用案
おすすめ業界 電子部品製造業通信機器製造業自動車業界
- 高精度な電子部品の検査
- 通信機器の性能検証
- 自動車部品の検査
高周波特性検査装置の制御方法を用いて、電子部品の高精度な検査が可能となります。特に、高周波を扱う部品の検査に有効です。
通信機器は高周波を扱うことが多く、この制御方法を用いることで、通信機器の性能検証がより高精度に行えます。
電子制御が進む自動車業界でも、電子部品の高精度な検査が求められています。この制御方法を用いて、自動車部品の品質管理を向上させることが可能です。
活用条件
- サブスク
- 譲渡
- ライセンス
商品化・サービス化 実証実験 サンプル・プロトタイプ
特許評価書
- 権利概要
| 出願番号 | 特願2019-541027 |
| 発明の名称 | プローブの角度を決定する方法、高周波特性検査装置、プログラム及び記憶媒体 |
| 出願人/権利者 | 国立研究開発法人産業技術総合研究所 |
| 公開番号 | WO2019/050001 |
| 登録番号 | 特許第0006858380号 |
- サブスク
- 譲渡
- ライセンス
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