国立大学法人 筑波大学
画期的な解析力を持つ位相画像撮影テクノロジー
国立大学法人 筑波大学
画期的な解析力を持つ位相画像撮影テクノロジー
この特許は、量子ビーム（例えばX線）を照射して得られる位相の変化を用いて被検体の画像を得る位相画像撮影方法、及びそれを用いた位相画像撮影装置に関するものです。吸収、Visibility（可視性）、位相を求めるため、隣接する3つのピクセルにおける吸収に対応する位相を使用します。これにより、非凸最小化問題を凸関数最小化問題に変換して、精度の高い画像を生成します。また、該装置は、量子ビームを発生する線源、ビームを照射する被検体を保持する手段、被検体からのビームを受光する検出器などを備えています。
つまりは、量子ビームを照射し、位相の変化を利用して高精度な画像を生成する位相画像撮影方法と装置。
AIによる特許活用案
おすすめ業界 医療業界研究開発工業製造
- 高精度な医療診断ツールとしての活用
- 非破壊検査における活用
- 科学研究への活用
この位相画像撮影方法は、X線撮影やMRIなどの医療診断ツールとして活用可能です。特に、軟組織や軽元素からなる物体の観察に適しており、これまで見えにくかった部位の詳細な画像を得ることができます。
工業製造の現場では、製品の内部構造を確認するために非破壊検査が行われることがあります。この位相画像撮影方法は、非破壊で高解像度な内部構造の観察を可能にし、製品の品質管理をより精密に行うことができます。
科学研究の現場でも、この位相画像撮影方法と装置は有用でしょう。物質の微細な構造や性質を詳細に観察することができ、新たな発見や理論の検証に役立つ可能性があります。
活用条件
- サブスク
- 譲渡
- ライセンス
商品化・サービス化 実証実験 サンプル・プロトタイプ
特許評価書
- 権利概要
| 出願番号 | 特願2020-525615 |
| 発明の名称 | 位相画像撮影方法とそれを利用した位相画像撮影装置 |
| 出願人/権利者 | 国立大学法人 筑波大学 |
| 公開番号 | WO2019/240165 |
| 登録番号 | 特許第0007347827号 |
- サブスク
- 譲渡
- ライセンス
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