国立大学法人 千葉大学
光路長の変化を大きくする革新的な断層測定装置
国立大学法人 千葉大学
光路長の変化を大きくする革新的な断層測定装置
この特許は、光源から放出された光を第一の光と第二の光に分割し、その分割された光の光路長を大きく変化させるための断層測定装置に関するものです。この装置は、光源、光分割部材、光路可変部材、光結合部材、振幅測定部材を有しています。光路可変部材は、支持板、回転支持部材、支持反射部材、第一の固定反射部材、第二の固定反射部材を有します。この構造により、光が反射され、再度入射されることで光路長の変化を大きくすることが可能になります。これにより、同じ支持板の径（面積）であってもより効率的な光路長の変化を実現し、高精度な断層測定が可能となります。
つまりは、高精度な光干渉技術を活用した断層測定装置で、光路長の変化を大きくすることが可能。
AIによる特許活用案
おすすめ業界 医療機器研究開発製造業
- 高精度な医療診断装置の開発
- 研究開発用の精密計測装置としての利用
- 産業用の高精度な検査装置の開発
この断層測定装置の技術は、光干渉技術を用いた高精度な医療診断装置の開発に活用できます。特に、眼科診断などにおける網膜の詳細な断層像の取得などに役立つでしょう。
研究開発の現場では、微細な物質の構造を観察するための精密な計測装置が求められます。この断層測定装置の技術は、そのような精密計測装置として活用できます。
製造業では、製品の品質を確保するための高精度な検査装置が必要とされています。この断層測定装置の技術は、製品の内部構造を詳細に調べるための検査装置の開発に活用できます。
活用条件
- サブスク
- 譲渡
- ライセンス
商品化・サービス化 実証実験 サンプル・プロトタイプ
特許評価書
- 権利概要
| 出願番号 | 特願2011-181363 |
| 発明の名称 | 断層測定装置 |
| 出願人/権利者 | 国立大学法人 千葉大学 |
| 公開番号 | 特開2013-044592 |
| 登録番号 | 特許第0005911087号 |
- サブスク
- 譲渡
- ライセンス
準備中です