国立大学法人 千葉大学
革新的な断層測定装置と方法
国立大学法人 千葉大学
革新的な断層測定装置と方法
この発明は、光干渉技術を用いた断層測定装置とその方法に関するものです。光源から放出された光を分割し、それぞれ異なる光路を経て再び結合することで、光路差により発生する干渉縮を測定し、被測定物の表面状態を把握します。特に、光路長の変化を大きくすることで、支持反射部材を配置する支持板の半径や面積を大きくする必要がなく、断層測定装置の大型化を防ぐことが可能です。これにより、より小型で効率的な断層測定が可能となり、さまざまな分野での応用が期待されます。
つまりは、光干渉技術を用いた効率的な断層測定装置と方法を提供します。
AIによる特許活用案
おすすめ業界 医療業界建設業界研究開発
- 医療分野での利用
- 建設業界での利用
- 研究開発での利用
この技術は、医療分野での利用が考えられます。特に、MRIやCTスキャンなどの画像診断に使用される断層測定装置に応用することで、より高精度な画像を得ることが可能となります。
建設業界でもこの技術は有用です。建築物の構造解析や地盤調査などで使用される断層測定装置に応用することで、より正確なデータを迅速に取得することができます。
また、新たな物質や素材の開発研究においても、この技術は有用です。特に、微小な構造を持つ材料の特性を詳細に調査するためのツールとして活用することができます。
活用条件
- サブスク
- 譲渡
- ライセンス
商品化・サービス化 実証実験 サンプル・プロトタイプ
特許評価書
- 権利概要
| 出願番号 | 特願2011-185073 |
| 発明の名称 | 断層測定装置及び断層測定方法 |
| 出願人/権利者 | 国立大学法人 千葉大学 |
| 公開番号 | 特開2013-044726 |
| 登録番号 | 特許第0005854396号 |
- サブスク
- 譲渡
- ライセンス
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