国立大学法人九州工業大学
高精度電流測定を実現する革新的な装置
国立大学法人九州工業大学
高精度電流測定を実現する革新的な装置
本特許は、半導体回路の電流を配線長が長くなり寄生インダクタンスが増加することなく、測定する電流測定装置に関するものです。具体的には、オフモット除去処理やオフセット除去処理後の測定波形データの時間積分、積分回路のフィードバックCR時定数による除算を行う積分処理、オフセット除去処理後の測定データに積分処理後の測定データを加える加算処理、加算処理後の測定波形データを電流波形の大きさと一致させるために定数倍する定数倍処理を経て行います。これにより、電流測定が容易になり、回路パラメータに影響を与えずに電流を測定することが可能となります。
つまりは、半導体回路の電流を影響を与えずに正確に測定することができる電流測定装置
AIによる特許活用案
おすすめ業界 電子部品製造業半導体製造業電子機器製造業
- 高精度電流測定の実現
- 配線長の問題の解消
- 電流測定の効率化
本特許の技術を用いることで、半導体回路の電流測定の精度を向上させることが可能となります。これにより、回路の設計や検証の精度が向上し、より高品質な製品の開発が可能となります。
本特許の技術を活用することで、電流プローブの挿入が困難な場合や配線長が長く寄生インダクタンスが増加する問題を解消できます。これにより、測定の手間を減らし、作業効率を向上させることが可能となります。
電流測定装置の導入により、電流の測定が容易になり、効率的に作業を行うことが可能となります。また、回路パラメータに影響を与えずに電流を測定することができるため、電流測定の精度も向上します。
活用条件
- サブスク
- 譲渡
- ライセンス
商品化・サービス化 実証実験 サンプル・プロトタイプ
特許評価書
- 権利概要
| 出願番号 | 特願2011-215005 |
| 発明の名称 | 半導体回路の電流測定装置 |
| 出願人/権利者 | 国立大学法人九州工業大学 |
| 公開番号 | 特開2013-076569 |
| 登録番号 | 特許第0005846421号 |
- サブスク
- 譲渡
- ライセンス
準備中です