国立研究開発法人物質・材料研究機構
精密なX線回折パターン測定の新たな可能性
国立研究開発法人物質・材料研究機構
精密なX線回折パターン測定の新たな可能性
特に、本発明は、高圧下における粗粒かつ微少な粉末試料をX線照射位置で揺動させ、均一な粉末X線回折リングを得る技術です。これにより、精密なX線回折強度データを得ることが可能となります。具体的には、軸調整機構を用いて、第1、第2、第3の各揺動部の回転軸の軸方向を互いに直交するように調整する工程、そして、各揺動部の揺動とX線の照射を同時に行う工程を有します。また、3軸パルスモーター制御装置により、第3の揺動部の位置及び方向を制御する工程も特徴となります。
つまりは、本特許は、X線回折試料揺動装置、X線回折装置及びX線回折パターンの測定方法に関するものです。
AIによる特許活用案
おすすめ業界 化学材料科学工業製品
- 高精度なX線回折パターン測定
- 精密なデータ取得による研究開発の進行
- 高圧環境下での粉末試料のX線回折測定
この技術は、高圧下における粗粒かつ微少な粉末試料のX線回折パターンの高精度な測定を可能にします。これにより、材料の結晶構造や物性をより正確に把握し、新素材の開発や既存素材の改良に寄与できる可能性があります。
本特許の技術を利用すれば、精密なX線回折強度データを獲得することが可能となります。これにより、粉末試料の精密な解析が可能となり、研究開発の進行を助けます。
ダイヤモンドアンビルセルを用いて高圧を印加した状態でX線を照射することが可能で、高圧環境下での粉末試料のX線回折測定が行えます。これにより、高圧下での物質の挙動を詳細に調査することが可能となります。
活用条件
- サブスク
- 譲渡
- ライセンス
商品化・サービス化 実証実験 サンプル・プロトタイプ
特許評価書
- 権利概要
| 出願番号 | 特願2011-225394 |
| 発明の名称 | Ｘ線回折試料揺動装置、Ｘ線回折装置及びＸ線回折パターンの測定方法 |
| 出願人/権利者 | 国立研究開発法人物質・材料研究機構 |
| 公開番号 | 特開2013-088113 |
| 登録番号 | 特許第0005879567号 |
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