知財活用のイノベーションで差別化を

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国立研究開発法人量子科学技術研究開発機構
精密な測定とエラー管理を可能にする情報処理システム

国立研究開発法人量子科学技術研究開発機構
精密な測定とエラー管理を可能にする情報処理システム

本特許は、物質の測定情報とその測定位置を取得、表示する情報処理システムに関するものです。特に、エラー発生時の取り扱いに注目が集まっており、測定エラーや位置エラーが発生した場合の異なる表示方法を提供します。また、送信エラーが発生した場合は、エラー時に一時保存動作を行い、回線接続から切断までの間に再送動作を実行します。さらに、測定端末は通信結果を取得し、送信エラーが生じた場合はテスト通信を行い、正常であれば通信インターフェースを初期化します。これにより、通信エラーによる情報の欠落を防ぎ、精密な測定とデータ管理を実現します。

つまりは、物質の測定情報と測定位置を取得し、表示する高度な情報処理システム。

AIによる特許活用案

おすすめ業界 IT業界、製造業、医療業界

  • 精密機器の生産ラインでの活用
  • 製造業での精密機器の生産ラインでは、生産過程での数値測定が重要です。本システムを導入することで、測定エラーや位置エラーが発生した場合の異なる表示方法を活用し、エラーの特定と対処を迅速に行うことができます。

  • メディカルデバイスのデータ管理
  • 医療機器の使用データを精密に管理する必要があります。本システムは、デバイスからのデータを確実に収集し、エラーが発生した場合でも適切に対応することができます。これにより、デバイスの性能と患者の安全性を確保します。

  • 環境モニタリングシステムの高度化
  • 環境モニタリングシステムでは、大量のデータを取得し、そのデータの精度が重要です。本システムを導入することで、データの取得とエラー管理を効率化し、より正確な情報を提供することが可能になります。

活用条件

  • サブスク
  • 譲渡
  • ライセンス

商品化・サービス化 実証実験 サンプル・プロトタイプ

特許評価書

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  • 権利概要
出願番号特願2011-227934
発明の名称測定情報処理システムおよび放射線測定情報処理システム
出願人/権利者国立研究開発法人量子科学技術研究開発機構
公開番号特開2013-090090
登録番号特許第0005850449号
  • サブスク
  • 譲渡
  • ライセンス

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