国立研究開発法人量子科学技術研究開発機構
精密な測定とエラー管理を可能にする情報処理システム

国立研究開発法人量子科学技術研究開発機構
精密な測定とエラー管理を可能にする情報処理システム
本特許は、物質の測定情報とその測定位置を取得、表示する情報処理システムに関するものです。特に、エラー発生時の取り扱いに注目が集まっており、測定エラーや位置エラーが発生した場合の異なる表示方法を提供します。また、送信エラーが発生した場合は、エラー時に一時保存動作を行い、回線接続から切断までの間に再送動作を実行します。さらに、測定端末は通信結果を取得し、送信エラーが生じた場合はテスト通信を行い、正常であれば通信インターフェースを初期化します。これにより、通信エラーによる情報の欠落を防ぎ、精密な測定とデータ管理を実現します。
つまりは、物質の測定情報と測定位置を取得し、表示する高度な情報処理システム。
AIによる特許活用案
おすすめ業界 IT業界、製造業、医療業界
- 精密機器の生産ラインでの活用
- メディカルデバイスのデータ管理
- 環境モニタリングシステムの高度化
製造業での精密機器の生産ラインでは、生産過程での数値測定が重要です。本システムを導入することで、測定エラーや位置エラーが発生した場合の異なる表示方法を活用し、エラーの特定と対処を迅速に行うことができます。
医療機器の使用データを精密に管理する必要があります。本システムは、デバイスからのデータを確実に収集し、エラーが発生した場合でも適切に対応することができます。これにより、デバイスの性能と患者の安全性を確保します。
環境モニタリングシステムでは、大量のデータを取得し、そのデータの精度が重要です。本システムを導入することで、データの取得とエラー管理を効率化し、より正確な情報を提供することが可能になります。
活用条件
- サブスク
- 譲渡
- ライセンス
商品化・サービス化 実証実験 サンプル・プロトタイプ
特許評価書
- 権利概要
出願番号 | 特願2011-227934 |
発明の名称 | 測定情報処理システムおよび放射線測定情報処理システム |
出願人/権利者 | 国立研究開発法人量子科学技術研究開発機構 |
公開番号 | 特開2013-090090 |
登録番号 | 特許第0005850449号 |
- サブスク
- 譲渡
- ライセンス
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