国立大学法人東京農工大学
光誘起キャリヤライフタイム測定装置 - 半導体素材の性能を最大限に引き出す
国立大学法人東京農工大学
光誘起キャリヤライフタイム測定装置 - 半導体素材の性能を最大限に引き出す
本特許は、半導体の品質と性能を確認するための光誘起キャリヤライフタイム測定装置およびその方法に関するものです。具体的には、半導体基体に対して波長の異なる連続光を照射し、マイクロ波強度を検出することで、実効キャリヤライフタイムを算出します。さらに、バルクキャリヤライフタイムおよび表面再結合速度を求めることが可能です。これにより、半導体の品質や性能をより正確に評価でき、製品の信頼性や効率を向上することが可能となります。
つまりは、半導体の品質と性能を確認するための、高精度な光誘起キャリヤライフタイム測定装置の開発
AIによる特許活用案
おすすめ業界 半導体製造業電子機器製造業研究開発業
- 高品質半導体の製造
- 半導体の性能評価サービス
- 半導体研究の助け
本特許の技術を用いて、半導体の品質や性能を正確に評価することで、製品の高品質化を図ることが可能です。これにより、製品の信頼性を高め、顧客満足度を向上させることができます。
本特許の技術を活用して、半導体の性能評価サービスを提供することができます。ユーザーは、半導体の品質や性能を確認するための専門的な知識やスキルを必要とせず、簡単かつ迅速に評価結果を得ることができます。
本特許の技術を研究開発に活用することで、半導体の性能向上のための新たな発見や洞察を得ることができます。これにより、半導体技術の進歩を支え、業界全体の発展に貢献することが可能です。
活用条件
- サブスク
- 譲渡
- ライセンス
商品化・サービス化 実証実験 サンプル・プロトタイプ
特許評価書
- 権利概要
| 出願番号 | 特願2012-253129 |
| 発明の名称 | 光誘起キャリヤライフタイム測定装置及び光誘起キャリヤライフタイム測定方法 |
| 出願人/権利者 | 国立大学法人東京農工大学 |
| 公開番号 | 特開2013-145868 |
| 登録番号 | 特許第0006052536号 |
- サブスク
- 譲渡
- ライセンス
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