国立研究開発法人物質・材料研究機構
高精度なバンドラインナップ装置で最適な素材を見つけ出す
国立研究開発法人物質・材料研究機構
高精度なバンドラインナップ装置で最適な素材を見つけ出す
本特許は、試料の光源部がハロゲン光源と重水素光源の両方を有し、特定波長の光を試料に照射するバンドラインナップ装置です。コレクター電極に直流電圧を印加し、電流計で電流値を計測します。そして、特定波長の光を試料に照射し、試料の表面で反射した反射光または試料を透過した透過光の少なくとも一方を光量計で計測します。これにより、試料のイオン化ポテンシャルの値、バンドギャップの値、バンドラインナップの少なくとも一つを決定します。また、コレクター電極は金属製で、試料との間の距離が大気圧下の測定では1.0mm以下であることを特徴としています。
つまりは、本装置は、試料の価電子帯上端エネルギーと伝導帯下端エネルギーを用いて、イオン化ポテンシャルとバンドギャップの値を計算し、バンドラインナップを演算します。
AIによる特許活用案
おすすめ業界 半導体製造研究開発素材開発
- 光学素材の選定
- 素材開発の進化
- 研究開発の効率化
本装置を用いることで、光学素材の特性を正確に測定することができます。これにより、最適な素材の選定が可能になります。
新たな素材の開発において、その物性を正確に把握することは重要です。本装置を用いることで、バンドギャップやイオン化ポテンシャル等の物性を効率的に測定し、新素材開発を加速することが可能です。
本装置は、特定の波長の光を試料に照射し、反射や透過する光の量を計測することで、試料の物性を統合的に評価することができます。これにより、研究開発の効率化を図ることができます。
活用条件
- サブスク
- 譲渡
- ライセンス
商品化・サービス化 実証実験 サンプル・プロトタイプ
特許評価書
- 権利概要
| 出願番号 | 特願2012-170994 |
| 発明の名称 | バンドラインナップ装置及びその測定方法 |
| 出願人/権利者 | 国立研究開発法人物質・材料研究機構 |
| 公開番号 | 特開2013-167621 |
| 登録番号 | 特許第0006095043号 |
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