学校法人明治大学
高精度な物理量計測を可能にするパラメータ計測装置
学校法人明治大学
高精度な物理量計測を可能にするパラメータ計測装置
本特許は、特定の物理量（光の強度、熱の温度、振動の振幅など）を高精度に計測するためのパラメータ計測装置に関するものです。特に、目的成分の濃度に基づくパラメータの値を計測する際に、特定の波長（吸光度が極大となる波長を中心とした70ナノメートルの範囲内）の光を照射し、その結果生じる物理量を測定します。さらに、第1の波長の光と第2の波長の光を照射した場合に生じる物理量の変化も測定します。これにより、非目的成分から生じるエネルギーを抑制し、目的成分に基づくパラメータの正確な値を計算することが可能になります。
つまりは、照射光の波長変調と物理量比較による高精度な計測値を提供する特許技術
AIによる特許活用案
おすすめ業界 製造業医療機器業界研究開発
- 高精度な材料検査への応用
- 医療分野での利用
- 研究開発への活用
この技術は、製造業における材料検査に応用することができます。例えば、製品の品質管理の一環として、製品に含まれる特定の成分の濃度を正確に計測することが必要な場合、本技術を用いて高精度な計測を行うことが可能になります。
医療分野においても、本技術は大いに活用可能です。特に、血液中の特定の成分（例えば、血糖値等）を正確に計測する必要がある場合、本技術を用いることで、より高精度な計測が可能となります。これにより、病状の正確な把握や治療効果の評価がより精度高く行えるようになります。
物理量の正確な計測は、研究開発の現場でも重要です。本技術を活用すれば、特定の成分の濃度や物質の性質を高精度に測定することが可能となり、より正確なデータに基づいた研究が行えるようになります。これにより、新たな発見や技術開発の精度を向上させることができます。
活用条件
- サブスク
- 譲渡
- ライセンス
商品化・サービス化 実証実験 サンプル・プロトタイプ
特許評価書
- 権利概要
| 出願番号 | 特願2013-045981 |
| 発明の名称 | パラメータ計測装置、パラメータ計測方法、及びプログラム |
| 出願人/権利者 | 学校法人明治大学 |
| 公開番号 | 特開2014-079559 |
| 登録番号 | 特許第0006080004号 |
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- 譲渡
- ライセンス
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