株式会社ユピテル
高精度変位測定の新たな可能性！
株式会社ユピテル
高精度変位測定の新たな可能性！
この特許は、高周波電磁波を用いて精密な変位（位置の変化）を測定する方法およびその装置を提供します。二つの異なる周波数の電磁波を利用し、それぞれの反射電磁波を合成することで変位を定義します。その変位は、0.1～3000rpmの範囲で計測可能であり、異なる位置の変位を同時に測定することも可能です。さらに、この変位測定方法は時間経過による変位の計算にも対応しています。装置は、電磁波発振部を備え、対象物への照射領域の設定や乗算部での波形の取得など、変位測定のための各機能を持っています。
つまりは、高周波電磁波を用いた精密な変位測定方法とその装置
AIによる特許活用案
おすすめ業界 製造業建設業研究開発
- ファクトリーオートメーションの高精度化
- 建築物の安全性評価
- 研究開発への活用
精密な変位測定が可能なこの方法と装置は、製造ライン上での部品の微細な位置調整や、機械の精密な動作制御など、ファクトリーオートメーションの更なる高精度化に貢献します。
建物の微細な変位を時系列で測定することで、建築物の劣化状況や地震による影響を評価します。これにより、早期の補修や安全対策を行うことが可能となり、建築物の安全性向上に寄与します。
物質の微細な変形や振動を精密に測定することで、新素材の開発や、微小な物理現象の観察など、研究開発の分野での活用が期待できます。この技術は、科学的な発見を促進し、技術の進歩に貢献します。
活用条件
- サブスク
- 譲渡
- ライセンス
商品化・サービス化 実証実験 サンプル・プロトタイプ
特許評価書
- 権利概要
| 出願番号 | 特願2012-243102 |
| 発明の名称 | 変位測定方法及び変位測定装置 |
| 出願人/権利者 | 株式会社ユピテル |
| 公開番号 | 特開2014-090877 |
| 登録番号 | 特許第0006078801号 |
- サブスク
- 譲渡
- ライセンス
準備中です