国立研究開発法人産業技術総合研究所
非破壊で迅速な物質分析！新たなX線CT利用法
国立研究開発法人産業技術総合研究所
非破壊で迅速な物質分析！新たなX線CT利用法
この特許は、試料の元素の種類と濃度をX線コンピュータ断層撮影（CT）を用いて分析する方法に関するものです。試料の実測画像に現れている線質をテーラー展開式で近似し、その係数を決定しています。さらに、得られたコンピュータ断層画像の線質硬化の定量解析によるテーラー展開式の係数が特定され、その試料の元素を含む元素群を特定します。これにより、物質が含む重元素の種類と濃度を非破壊で迅速に計測することが可能になります。
つまりは、試料の元素の種類と濃度を非破壊で迅速に計測する分析方法
AIによる特許活用案
おすすめ業界 医療工業環境管理
- 非破壊での土壌試料分析への活用
- 医療分野での診断支援への活用
- 工業製品の品質管理への活用
この技術は、土壌試料に含まれる重元素の有無やその濃度を非破壊で分析するために使用できます。これにより、土壌汚染の検出や環境影響評価が迅速かつ効率的に行えます。
この技術は、医療分野における診断支援ツールとして活用可能です。体内の特定の元素の濃度を非破壊で計測することで、特定の疾患の診断や治療の進行状況のモニタリングに役立つ可能性があります。
この技術は、製品の製造過程において、非破壊で迅速に製品内部の元素の種類と濃度を計測することが可能です。これにより、製品の品質管理をより効率的に行うことが可能になります。
活用条件
- サブスク
- 譲渡
- ライセンス
商品化・サービス化 実証実験 サンプル・プロトタイプ
特許評価書
- 権利概要
| 出願番号 | 特願2012-267612 |
| 発明の名称 | コンピュータ断層撮影を用いた分析方法 |
| 出願人/権利者 | 国立研究開発法人産業技術総合研究所 |
| 公開番号 | 特開2014-115116 |
| 登録番号 | 特許第0005946095号 |
- サブスク
- 譲渡
- ライセンス
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