国立研究開発法人産業技術総合研究所
3次元モデル間の対応点探索を精度向上！
国立研究開発法人産業技術総合研究所
3次元モデル間の対応点探索を精度向上！
本特許は、3次元モデル間での対応点探索を高精度に行うための装置と方法を提供します。具体的には、サンプリング点間の拡散距離を計算し、その勾配方向を算出します。さらに、ユークリッド距離を利用して点間の類似度を計算します。この方法は、3次元モデルを構成する点群の位置情報や接続情報を記憶部に保存し、それらの情報に基づいて特徴量を計算し、類似度に基づいてマッチングを行うことが可能です。3次元モデルの対応点探索の精度を向上させることで、より正確な3Dモデリングや解析が可能になります。
つまりは、3次元モデル間でのマッチング処理を高精度に行う対応点探索装置と方法の提供。
AIによる特許活用案
おすすめ業界 製造業IT業建設業
- 3Dプリンターの精度向上
- 建築・建設業界での高精度3Dモデリング
- 3次元映像制作の精度向上
3Dプリンターで複数の3次元モデルを組み合わせる際に、この対応点探索装置と方法を使用することで、モデル間のマッチング精度を向上させ、より精度の高い出力が可能になります。
建築・建設業界で建物や構造物の3Dモデルを作成する際に、この対応点探索装置と方法を活用することで、高精度な3Dモデリングを実現でき、設計や解析の精度を向上させることができます。
映画やゲームなどの3次元映像制作においても、この対応点探索装置と方法を活用することで、複数の3Dモデルを組み合わせる際の精度を向上させることができ、よりリアルな映像表現が可能になります。
活用条件
- サブスク
- 譲渡
- ライセンス
商品化・サービス化 実証実験 サンプル・プロトタイプ
特許評価書
- 権利概要
| 出願番号 | 特願2014-226566 |
| 発明の名称 | 対応点探索装置と対応点探索プログラム並びに対応点探索方法 |
| 出願人/権利者 | 国立研究開発法人産業技術総合研究所 |
| 公開番号 | 特開2016-091391 |
| 登録番号 | 特許第0006441032号 |
- サブスク
- 譲渡
- ライセンス
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