国立研究開発法人日本原子力研究開発機構
非接触での精緻な赤外線放射率測定技術
国立研究開発法人日本原子力研究開発機構
非接触での精緻な赤外線放射率測定技術
本特許は、赤外線放射率測定装置およびその方法に関するもので、特に高温環境下にある物体の放射率を非接触で精密に測定する技術について詳述しています。この技術では、第1、第2、および第3の赤外線センサを利用して測定対象から放射される赤外線強度を測定し、それに基づいて放射率を演算します。また、測定対象物体の表面温度に応じて異なる赤外線センサを使用することで、より正確な結果を得ることが可能です。さらに、液体金属が付着する物体または金属膜が形成される物体を測定対象としています。これにより、プラントの運転条件と同等な環境下で放射率を測定することが可能となります。
つまりは、高温環境下の物体の赤外線放射率を精密に測定するための特許技術
AIによる特許活用案
おすすめ業界 エネルギー業界製造業研究開発
- 高温素材の品質管理
- 研究開発への応用
- プラントの効率向上
熱による物質の表面性状の変化を評価するために、本赤外線放射率測定技術を使用することで、製品の品質管理をより精密に行うことが可能です。特に金属製品の製造業で有効でしょう。
本技術は新しい材料や物性の研究開発に役立つ可能性があります。特に高温環境下での物質の反応や性質の変化を調査する際には、非接触で精密な測定が可能となります。
本技術はプラントの運転条件と同等な環境下で放射率を測定できるため、プラントの効率を向上させるのに役立つ可能性があります。例えば、冷却系統の最適化や熱回収システムの改善に寄与できるでしょう。
活用条件
- サブスク
- 譲渡
- ライセンス
商品化・サービス化 実証実験 サンプル・プロトタイプ
特許評価書
- 権利概要
| 出願番号 | 特願2015-061134 |
| 発明の名称 | 赤外線放射率測定装置および赤外線放射率測定方法 |
| 出願人/権利者 | 国立研究開発法人日本原子力研究開発機構 |
| 公開番号 | 特開2016-180690 |
| 登録番号 | 特許第0006485953号 |
- サブスク
- 譲渡
- ライセンス
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