国立研究開発法人産業技術総合研究所
温度測定の新次元！非接触で真温度を正確に測定
国立研究開発法人産業技術総合研究所
温度測定の新次元！非接触で真温度を正確に測定
本特許では、非接触で物体表面の真温度を測定する方法とその装置を提供します。具体的には、2波長反射率比を利用し、補助放射源の輝度と物体表面の2波長反射光輝度比から真温度を求めます。これにより、放射率に依存せずに真温度を求めることが可能となっています。また、一方向に走行する被測定対象物の走行方向に垂直にスリット状に補助放射源からの光を投光し、走査型2波長放射温度計と計算装置を備えた装置も提供しています。この方法と装置を使用すれば、例えば製造ライン上の製品の温度管理など、非接触での正確な温度測定が求められる様々な場面で活用できます。
つまりは、2波長反射率比を利用した非接触温度測定方法とその装置
AIによる特許活用案
おすすめ業界 製造業食品加工業化学業
- 非接触での製造ライン上の品質管理
- 食品加工工程での温度管理
- 化学反応の温度管理
本特許の技術を製造ライン上で活用することで、製品の温度管理を非接触で正確に行うことが可能となります。これにより、品質管理の精度を高め、製品の不良率を低減することが期待できます。
食品の加工工程においても、本特許の技術を活用することで、加工中の食品の温度を非接触で正確に測定することができます。これにより、加工品質の向上や食品安全の確保に寄与します。
化学反応の過程での温度管理は、反応の進行速度や生成物の品質に大きな影響を与えます。本特許の技術を用いれば、反応器内の温度を非接触で正確に測定し、最適な反応条件を保つことが可能となります。
活用条件
- サブスク
- 譲渡
- ライセンス
商品化・サービス化 実証実験 サンプル・プロトタイプ
特許評価書
- 権利概要
| 出願番号 | 特願2015-144432 |
| 発明の名称 | 非接触温度測定方法および測定装置 |
| 出願人/権利者 | 国立研究開発法人産業技術総合研究所 |
| 公開番号 | 特開2017-026432 |
| 登録番号 | 特許第0006570061号 |
- サブスク
- 譲渡
- ライセンス
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