国立研究開発法人産業技術総合研究所
精度高く誘電率を測定！反射伝送法誘電率測定装置
国立研究開発法人産業技術総合研究所
精度高く誘電率を測定！反射伝送法誘電率測定装置
本製品は、マイクロ波帯（1-18GHz）やミリ波帯電磁波を用いて誘電率特性を評価する反射伝送法誘電率測定装置です。特定のレンズアンテナ間に試料を配置し、ゲーティング法を利用して試料の誘電率特性を評価します。試料から放出された電磁波の反射波・透過波を測定し、Sパラメータを取得、このパラメータを基に試料の誘電率特性を評価します。さらに、得られたSパラメータの時間領域波形から、試料の誘電率特性の初期推定値を設定し、これを基に誘電率特性を詳細に評価します。この装置により、精度高く誘電率を測定することが可能となります。
つまりは、マイクロ波帯やミリ波帯電磁波を用いて、誘電率特性を評価する反射伝送法誘電率測定装置
AIによる特許活用案
おすすめ業界 電子機器製造業研究開発教育・研究機関
- 電子機器の品質保証
- 研究開発の助け
- 教育・研究機関での実験教材として
電子機器製造業において、本製品を用いて製品の誘電率を測定し、品質管理に活用することが可能です。精度の高い測定結果は、製品品質の向上に寄与します。
新たな材料や製品の研究開発において、本製品を用いて誘電率を測定することで、データの精度を向上させ、研究開発の進行を助けることができます。
大学や研究機関における教育の一環として、本製品を用いた実験を行うことで、学生や研究者が理論を実際の実験により理解しやすくなります。また、研究の進行にも利用可能です。
活用条件
- サブスク
- 譲渡
- ライセンス
商品化・サービス化 実証実験 サンプル・プロトタイプ
特許評価書
- 権利概要
| 出願番号 | 特願2016-120724 |
| 発明の名称 | 時間領域解析を用いた誘電率評価法 |
| 出願人/権利者 | 国立研究開発法人産業技術総合研究所 |
| 公開番号 | 特開2017-223614 |
| 登録番号 | 特許第0006590257号 |
- サブスク
- 譲渡
- ライセンス
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