東京都公立大学法人
高解像度放射線測定装置：深度方向の放射線源分布を細かく測定
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高解像度放射線測定装置：深度方向の放射線源分布を細かく測定
従来の放射線測定装置は、光電子増倍管を使用しているため、検出ユニットの外径や深度方向の大きさが大きく、細かい深度分布調査が困難でした。また、検出ユニットが移動と検出を繰り返す必要があるため、解像度の高い測定を行おうとすると、測定作業全体の時間が長くなるという問題がありました。本発明では、これらの問題を解消することを目指しています。具体的には、シンチレータとフォトダイオードを使用して、短時間で深度方向に細かい間隔で放射線源の深度分布を測定することが可能な放射線測定装置を提案しています。これにより、放射線の深度分布を高解像度で短時間に調査することが可能となります。
つまりは、この特許は、短時間且つ深度方向に細かい間隔で放射線源の深度分布を測定可能な放射線測定装置に関するものです。
AIによる特許活用案
おすすめ業界 原子力産業医療産業研究開発
- 原子力発電所の安全管理
- 放射線療法の精度向上
- 研究開発の効率化
原子力発電所では、放射線の深度分布を迅速かつ高解像度で把握することが重要です。本発明の放射線測定装置を活用することにより、より効率的な安全対策を講じることが可能になります。
放射線治療では、放射線の深度分布を正確に知ることが重要です。本発明の放射線測定装置を使用すると、短時間で高解像度の測定が可能になり、治療の精度を向上させることが期待できます。
放射線に関する研究開発では、放射線の深度分布情報が求められます。本発明の放射線測定装置を使用することで、短時間で高解像度のデータを取得することが可能となり、研究の効率化に貢献することが期待できます。
活用条件
- サブスク
- 譲渡
- ライセンス
商品化・サービス化 実証実験 サンプル・プロトタイプ
特許評価書
- 権利概要
| 出願番号 | 特願2017-247979 |
| 発明の名称 | 放射線測定装置 |
| 出願人/権利者 | 東京都公立大学法人 |
| 公開番号 | 特開2019-113446 |
| 登録番号 | 特許第0006889476号 |
- サブスク
- 譲渡
- ライセンス
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